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LEXT OLS5100 3D 激光掃描顯微鏡 OLS5100激光顯微鏡專為失效分析和材料工程研究而設計，將出色的測量精度和光學性能與智能工具相結合，使顯微鏡使用起來更加方便。它可以快速高效完成亞微米級形貌和表面粗糙度的精確測量，不僅簡化了工作流程，還能提供值得信賴的數(shù)據(jù)。

三維超景深顯微鏡系統(tǒng)的核心優(yōu)勢在于其高分辨率和高對比度的成像能力。這使得科研工作者能夠詳細觀察樣本的表面形貌和內(nèi)部結構，從而獲取更為精準的數(shù)據(jù)和信息。同時，該系統(tǒng)還配備了自動對焦功能，能夠快速準確地捕捉到不同深度的清晰圖像，極大地提高了觀察的效率和準確性。

按需搭建顯微分析系統(tǒng)是指根據(jù)用戶的實際使用需求以及實驗場景來確認顯微成像的功能以及配置，從而搭建起符合用戶研究分析的理想顯微分析系統(tǒng)。